Agilent Technologies 54657A Uživatelská příručka Strana 62

  • Stažení
  • Přidat do mých příruček
  • Tisk
  • Strana
    / 89
  • Tabulka s obsahem
  • KNIHY
  • Hodnocené. / 5. Na základě hodnocení zákazníků
Zobrazit stránku 61
Creating an overshoot testing mask
There are two parameters associated with the overshoot of a signal: the
percentage of overshoot and the settling time of the overshoot. A mask
template can be created to test the upper limit of these two parameters at
the same time. The following figure shows an example of a mask template for
testing overshoot.
Example of a mask template for testing overshoot
Figure 2 15
Operating the Measurement/Storage Module
Creating an overshoot testing mask
2–46
Zobrazit stránku 61
1 2 ... 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 ... 88 89

Komentáře k této Příručce

Žádné komentáře