Agilent Technologies B1500A Servisní příručka Strana 108

  • Stažení
  • Přidat do mých příruček
  • Tisk
  • Strana
    / 110
  • Tabulka s obsahem
  • KNIHY
  • Hodnocené. / 5. Na základě hodnocení zákazníků
Zobrazit stránku 107
Module 6
Low Current Measurement
6-36
Low Current Gate Oxide Measurement
Fowler-Nordheim (FN) Plot
The Fowler-Nordheim (FN) plot is a log plot of oxide leakage in accumulation mode breakdown.
The plot shows a characteristic "arc" leading up to the rupture current.
This plot is a measurement result example of a MOS capacitor on a wafer. You cannot get this kind
of plot by measuring the class exercise MOS FET.
The MARKER is set to -27.590 mA. This is the point at which rupture of the gate oxide occurred.
The B1500A has the sweep abort function which automatically aborts sweep measurement when any
abnormal occurs.
Zobrazit stránku 107
1 2 ... 103 104 105 106 107 108 109 110

Komentáře k této Příručce

Žádné komentáře