Agilent Technologies 8510C Servisní příručka Strana 23

  • Stažení
  • Přidat do mých příruček
  • Tisk
  • Strana
    / 222
  • Tabulka s obsahem
  • ŘEŠENÍ PROBLÉMŮ
  • KNIHY
  • Hodnocené. / 5. Na základě hodnocení zákazníků
Zobrazit stránku 22
8510XF Network Analyzer Systems 1-7
Introduction
System Description
Wafer Probe
Configuration
For on-wafer measurements, it is usually best to remove the network
analyzer from the instrument rack, and place it on a table adjacent to the
probe station. This makes it easy to see and operate the analyzer.
No wafer probe station is supplied with the system; the illustration below
simply shows how the 8510XF combines with a typical probe station to
create an on-wafer measurement system.
Figure 1-3 8510XF, Configured for Wafer-Probe Measurement
Zobrazit stránku 22
1 2 ... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 ... 221 222

Komentáře k této Příručce

Žádné komentáře